Solution d’inspection pour matériaux avancés

Une solution de métrologique optique non destructive dédiée aux matériaux de nouvelle génération (GaN, LiNbO3, HfO2, SiC …) et à l’optimisation des procédés de fabrication en photonique et semi-conducteur.

A propos de NLOPTICS

Vers de nouveaux
standards de fabrication

Avec la montée en puissance de l’intelligence artificielle, de l’informatique quantique et bientôt de la 6G, la demande pour des micropuces toujours plus rapides, puissantes et efficaces s’intensifie. Pour relever ces défis, l’industrie de la photonique et des semi-conducteurs mise sur des matériaux avancés aux propriétés uniques, comme le GaN pour l’électrification, le niobate de lithium (LiNbO3) pour la modulation haute fréquence, ou encore le HfO2 pour les mémoires de nouvelle génération.

NLOPTICS a mis au point une technique de métrologie optique non linéaire, non destructive et sans contact, qui révèle des défauts et des anomalies invisibles aux approches traditionnelles. Entièrement adaptée aux matériaux avancés, cette innovation accompagne les fabricants de micropuces dans l’optimisation et l’amélioration de leurs procédés de fabrication.

Pourquoi choisir l’optique non linéaire ?

L’optique non linéaire offre une approche unique pour sonder la matière : elle permet d’accéder à des informations autrement inaccessibles par d’autres techniques d’analyse.

- - Non destructif et sans contact : aucune altération des échantillons, adapté aux procédés industriels en toutes circonstances.
  - Compatibilité matériaux avancés : LiNbO3, GaN, HfO2, SiC, AlN, SiO2, InP, GaAs, Al2O3, diamant, verres, métaux, et plus.
  - Accès direct aux propriétés fonctionnelles : charges résiduelles, degré d’anisotropie, homogénéité de dépôts, orientation cristalline.
  - Analyse de surface et de couches minces : peut détecter des dépôts d’épaisseur nanométrique, idéal pour les interfaces critiques et la détection de contaminants.
  - Révèle l’invisible : met en évidence des défauts, anomalies et inhomogénéités que les méthodes optiques classiques ne détectent pas.
  - Support à l’innovation : accélère l’intégration des matériaux de nouvelle génération dans la photonique et les semi-conducteurs.

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L’innovation technologique au service de vos secteurs d’activité

Photonique Intégrée

La photonique intégrée repose sur des systèmes optiques miniaturisés intégrant des composants avancés comme des guides d’onde, réseaux de diffraction et modulateurs de phase. Or, ces dispositifs sont sensibles à la moindre irrégularité. C’est pourquoi NLOPTICS détecte les défauts avec précision et fiabilité.

Nos applications

Contrôle qualité de structures périodiques pour quasi-accord de phase dans les modulateurs RF
Evaluation des microstructures de guides d’onde plans pour valider les étapes de fabrication
Identification des axes optiques pour améliorer l’efficacité de propagation de signaux
Validation de la qualité de surface en écartant les effets de topologie

Semi-conducteurs

NLOPTICS analyse minutieusement les surfaces et films minces des matériaux afin de garantir des performances optimales dans la fabrication de composants semi-conducteurs avancés. Ces derniers sont utilisés dans des dispositifs comme les micropuces, modulateurs optiques et capteurs CCD.

Nos applications

Evaluation stœchiométrique de couches minces pour certifier la qualité de déposition
Analyse de wafers et matériaux semi-conducteurs (SiO2, InP, GaAs, LiNbO3, SiC, GaN, Saphir, Diamant, et plus)
Certification de la performance de réponse non linéaire sur les dépôts de couches minces

Verres et Polymères

À toutes les échelles, les verres et polymères utilisés dans l’optique, l’automobile et l’électronique nécessitent une inspection minutieuse. En effet, cela permet de garantir la performance des revêtements, des dépôts, des couches minces et des composants polymères présents en surface.

Nos applications

Détection de monocouches moléculaires pour fabrication de capteurs, notamment sur les surfaces planes et les fibres optiques
Evaluation du degré d’isotropie de surface pour certifier le caractère amorphe de verres en optique de pointe
Caractérisation de la qualité optique de verres par la détection de charges résiduelles statiques

Au-delà des produits, nous vous offrons des solutions innovantes et sur mesure.

Misez sur une approche personnalisée pour répondre à vos besoins.

Prestation de contrôle qualité par échantillonnage

Optez pour nos prestations offrant une alternative idéale pour les phases de R&D et les tests à petite échelle.

Nos laboratoires permettent d’analyser une grande variété de surfaces, sans contrainte de méthode ou de matériel. Ainsi, vous pouvez valider vos concepts avant la production industrielle, tout en bénéficiant d’un soutien personnalisé à chaque étape du développement.

Instrument de mesure pour analyse de surfaces

Optez pour nos instruments de mesure, conçus pour répondre aux plus hautes exigences en matière de performance et de précision.

Grâce à leur capacité à inspecter minutieusement les matériaux en temps réel, ils permettent d’assurer un contrôle qualité rigoureux des surfaces à chaque étape de production.

Un expertise reconnue

Chez NLOPTICS, nous investissons continuellement dans la recherche et le développement. En effet, notre objectif est d’améliorer nos technologies et d’élargir les capacités de nos appareils de mesure.
Par ailleurs, nous collaborons étroitement avec des partenaires industriels et académiques, afin de rester à la pointe de l’innovation en métrologie non destructive.

« Les oxydes trouvent de plus en plus d’applications dans le champ des circuits photoniques intégrés et des capteurs. La génération de seconde harmonique fait partie des méthodes à investiguer par sa réponse intrinsèque aux non-linéarités de second ordre. »

Jacques Cochard – TEMATYS

« Le niobate de lithium a gagné en importance grâce à ses forts effets électro-optiques, son indice de réfraction élevé et sa fenêtre de transparence étendue, le rendant particulièrement adapté pour des applications en optique non linéaire. »

Mordor Intelligence

« Les méthodes d’analyse actuelles présentent certaines limites de coût, d’accessibilité ou d’adaptabilité, incitant ainsi fortement les industriels à rechercher des alternatives plus efficaces et innovantes. »

Alexis Feugier – National Director France – Ocean Insight